11月18日，由北京科技社團服務(wù)中心主辦，北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測檢驗中心有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“軟測中心公司”）、北京網(wǎng)絡(luò )信息安全技術(shù)創(chuàng )新產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟承辦的“2025半導體先進(jìn)檢測技術(shù)研討會(huì )——光學(xué)測量技術(shù)專(zhuān)題”在北京中關(guān)村軟件園成功舉辦，首鋼集團、BYD、興唐通信、國家納米科學(xué)中心、北京理工大學(xué)、中國科學(xué)院等單位的技術(shù)專(zhuān)家和工程師參加。
軟測中心公司高級工程師馬洪濤以《芯片失效分析檢測》為題進(jìn)行實(shí)戰分享，通過(guò)典型案例生動(dòng)展示了X-Ray、超聲波掃描、微光顯微鏡等設備在定位芯片失效根源中的關(guān)鍵作用。中圖儀器高級工程師馮婕系統介紹了白光干涉、共聚焦等光學(xué)測量技術(shù)前沿與發(fā)展。在交流與實(shí)驗室參觀(guān)環(huán)節，重點(diǎn)展示了實(shí)驗室EMMI、SEM、FIB、X-RAY等高端設備失效分析能力及高效的檢測服務(wù)實(shí)踐。
軟測中心公司副總經(jīng)理蔡偉介紹，作為國家級檢驗檢測機構，軟測中心公司深耕行業(yè)23年，始終秉持“科學(xué)、準確、公正、權威”宗旨，提供專(zhuān)業(yè)的測試驗證服務(wù)?！鞍残緟R測”平臺已整合檢測設備1000+臺套，完成專(zhuān)業(yè)檢測服務(wù)500余項。通過(guò)政策銜接、技術(shù)活動(dòng)、聯(lián)合實(shí)驗室與AI智能服務(wù)四大模塊，實(shí)現資源開(kāi)放共享，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同創(chuàng )新，助力國產(chǎn)檢測設備應用落地。
未來(lái)，軟測中心公司將繼續依托“安芯匯測”生態(tài)平臺，開(kāi)展技術(shù)培訓與交流等系列活動(dòng)，助力科技工作者掌握先進(jìn)檢測技術(shù)，通過(guò)“產(chǎn)學(xué)研檢用”協(xié)同，推動(dòng)國產(chǎn)檢測設備的應用驗證與生態(tài)建設。
